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主營產(chǎn)品:X射線熒光光譜儀

日本理學(xué)光譜儀有哪些優(yōu)點(diǎn)呢?一文看懂

點(diǎn)擊次數(shù):1591  更新時(shí)間:2021-08-10
  日本理學(xué)光譜儀的檢定項(xiàng)目包括精密度、穩(wěn)定性、X射線計(jì)數(shù)率、探測器分辨率以及儀器的計(jì)數(shù)線性,定期檢定的檢測結(jié)果需要符合的要求。規(guī)定了波長色散X射線熒光光譜儀的校準(zhǔn)項(xiàng)目和技術(shù)指標(biāo)(B級),供檢定時(shí)參考。表格中N代表n次測量的平均計(jì)數(shù)值;λ代表分析元素X射線的波長(以nm為單位)。
  日本理學(xué)光譜儀的優(yōu)點(diǎn):
  1、儀器結(jié)構(gòu)簡單,省略了晶體的精密運(yùn)動裝置,也無需精確調(diào)整。還避免了晶體衍射所造成的強(qiáng)度損失。光源使用的X射線管功率低,一般在100W以下,不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng),空氣冷卻即可,節(jié)省電力。
  2、能量色散形熒光光儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近,X射線的利用率很高,不需光學(xué)聚集,在累積整個(gè)光譜時(shí),對樣品位置變化不象波長色散型熒光光儀那樣敏感,對樣品形狀也無特殊要求。
  3、在能量色散譜儀中,樣品發(fā)出的全部特征X射線光子同時(shí)進(jìn)入檢測器,這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎(chǔ),也能清楚地表明背景和干擾線。因此,半導(dǎo)體檢測器X射線光譜儀能比晶體X射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作。
  4、能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測量整個(gè)分析線脈沖高度分布的積分程度,而不是峰頂強(qiáng)度。因此,減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線波長的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響,提高凈計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)精度,可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀察和測量所有元素,而不是按特定譜線分析特定元素。因此,減小了偶然錯(cuò)誤判斷某元素的可能性。
  以上就是日本理學(xué)光譜儀的優(yōu)點(diǎn),供大家參考!
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